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扫描电镜干粉制剂颗粒检测

扫描电镜干粉制剂颗粒检测

简要描述:结合飞纳台式扫描电镜干粉制剂颗粒检测系统,以快速、简便的方式实现颗粒的可视化分析,代表着微观颗粒分析技术的一大进步。快速、易用和超清晰成像质量的飞纳台式扫描电镜,加上颗粒统计分析测量系统的颗粒图像分析功能,为用户检验、分析各种各样的颗粒、粉末样品创造了一个强大工具。

产品型号: Particle Metric

所属分类:扫描电镜干粉制剂颗粒检测

更新时间:2022-03-18

厂商性质:其他

详情介绍
品牌其他品牌产地进口
产品新旧全新放大倍率2,000,000x
分辨率1.8nm加速电压1kV-20kV

使用飞纳台式扫描电镜的颗粒统计分析测量系统,以快速、简便的方式实现颗粒的可视化分析。颗粒统计分析测量系统支持用户收集多种亚微米颗粒的形态和尺寸数据。

 

超越光学显微镜分析,完全自动化的飞纳台式扫描电镜干粉制剂颗粒检测系统把可视化分析提高到了一个新台阶,这将在粉末设计、开发和质量控制中产生进一步的探索和创新。

颗粒统计.jpeg

柱状图、散点图和生成的图像可以选定格式导出,并生成报告。所有被测颗粒的柱状图都可以显示为数量分布或体积分布。

 

散点图可以从颗粒属性的任意组合中绘制出来,以揭示相关性和趋势。飞纳台式扫描电镜干粉制剂颗粒检测系统支持用户获得他们需要的数据。因此,颗粒系统加快了颗粒分析速度,提高了产品质量。

 

颗粒分析软件.png 颗粒2.jpg

 

颗粒系统规格参数

 

颗粒分析

 

颗粒尺寸范围:100 nm – 0.1 mm

颗粒探测速度:高达 1000 个/分钟

测量属性:大小、形状、数量

 

颗粒参数:面积、圆当量直径、表面积、外切圆直径、比表面积、周长、纵横比、圆度、伸长率、灰度等级、长轴、短

轴、凸壳体、重心 (x、y)、像素点数、凹凸度

 

图像显示

 

• 可给出线性、对数或双对数坐标的数量、体积分布图

• 任意zhi定参数的散点图

• 单个颗粒的扫描电镜(SEM)图像

 

复纳科学仪器 (上海) 有限公司 (Phenom Scientific),负责荷兰飞纳台式扫描电镜在中国市场的推广和销售,提供专业的和测试服务,飞纳电镜拥有专业的服务团队,提供优化的解决方案;飞纳电镜在上海、北京、广州设立了测试中心和售后服务中心,目前飞纳在中国已经拥有超过 1000 名用户。

 



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