结合飞纳台式扫描电镜干粉制剂颗粒检测系统，以快速、简便的方式实现颗粒的可视化分析，代表着微观颗粒分析技术的一大进步。快速、易用和超清晰成像质量的飞纳台式扫描电镜，加上颗粒统计分析测量系统的颗粒图像分析功能，为用户检验、分析各种各样的颗粒、粉末样品创造了一个强大工具。

Phenom Particle Metric颗粒测试以较快、较简便的方式实现颗粒的可视化分析，是微观颗粒分析技术的一大进步。快速、易用和超清晰图像质量的Phenom飞纳扫描电镜，加上Particle Metric颗粒系统的颗粒图像分析功能，为用户提供了分析颗粒和粉末试样的强大工具。