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Phenom Particle Metric颗粒测试

Phenom Particle Metric颗粒测试

简要描述:Phenom Particle Metric颗粒测试以较快、较简便的方式实现颗粒的可视化分析,是微观颗粒分析技术的一大进步。快速、易用和超清晰图像质量的Phenom飞纳扫描电镜,加上Particle Metric颗粒系统的颗粒图像分析功能,为用户提供了分析颗粒和粉末试样的强大工具。

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所属分类:扫描电镜干粉制剂颗粒检测

更新时间:2022-03-18

厂商性质:其他

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Phenom Particle Metric颗粒测试

Phenom World BV 颗粒测试系统Phenom Particle Metric

—— 研究颗粒和粉末的强大工具

ParticleMetric颗粒测试系统,以快、简便的方式实现颗粒的可视化分析,是微观颗粒分析技术的一大进步。快速、易用和超清晰图像质量的Phenom飞纳扫描电镜,加上Particle Metric颗粒系统的颗粒图像分析功能,为用户提供了分析颗粒和粉末试样的强大工具。

基于飞纳扫描电镜的颗粒分析解决方案ParticleMetric能够使用户根据需要,随时获取所观测颗粒的面积、当量直径、表面积、外接圆直径、比表面积、周长、宽高比、充实度、伸长率、灰度等级、长轴、短轴长度(椭圆)、凸壳体、重心、像素点数、凸状物等数据,终实现ParticleMetric加速颗粒物分析速度、提升产品质量的目的。

Phenom Particle Metric颗粒测试的功能

1.     可进行以下颗粒分析

l  颗粒尺寸范围:100nm ~ 0.1mm

l  颗粒探测速度:高达1000个/分钟

l  颗粒测量属性:大小、形状、数量

2.     可以测量的颗粒参数

l  面积、当量直径、表面积、外接圆直径、比表面积、周长、宽高比

l  充实度、伸长率、灰度等级、长轴长度和短轴长度(椭圆)

l  凸壳体、重心、像素点数、凸状物。

3.     可以提供的图形显示

l  按数量或体积的线性、对数、双对数点状图

l  任何参数的散点图

l  单个颗粒的SEM图像

4.     可以提供的图形输出

l  Word版本docx格式的报告,TIFF格式的图像

l  CSV文件,离线分析的项目文件(.PAME)Pro Suite的一部分

飞纳扫描电镜颗粒系统ParticleMetric软件的优势

1.      加载ParticleMetric软件的飞纳台式扫描电镜能够轻松生成并分析图像,方便用户采集超细颗粒的形貌信息和颗粒的尺寸数据;

2.      全自动的飞纳扫描电镜颗粒测试系统ParticleMetric软件测量可以实现超出光学显微镜、更好景深的视觉效果,为用户提供颗粒物的结构设计、研发和质量控制方面的细节数据;

3.      ParticleMetric软件生成的柱状图、散点图可以作为报告的内容按照格式输出。任何柱状图都可以按照被测颗粒的不同属性,生成数量柱状图和体积柱状图。散点图可以按照任何一项颗粒的特性生成,以便揭示相关趋势。

4.     直接由Phenom获取图像,识别并确认诸如破损颗粒、附着物和外来颗粒,关联颗粒物的特征,比如直径、充实度、纵横比和凹凸度

5.     便捷的操作提升了工作效率并使计划表简单化和可视化

6.     无限制的图像采集,可轻松存储于网络或优盘,便于共享、交流或以后参考

7.     Phenom的易用性和对环境的良好适应力,用户可以将试样程度视觉化

8.     附有高清图片的统计学数据。



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