Phenom Pharos G2 是飞纳推出的台式场发射扫描电镜，可用于锂电材料微观结构观察，帮助分析正负极材料、导电剂、隔膜等样品形貌。 Phenom Pharos G2 采用肖特基热场发射电子枪，电子光学放大倍数可达 2,000,000 X，分辨率优于 1.5 nm，适合对高分辨形貌、精细结构和微纳尺度特征有要求的研发与检测场景

Phenom XL G3 是飞纳推出的大仓室台式扫描电镜，可用于药包材研发检测，帮助观察不同包装材料的表面形貌、断面结构和缺陷特征。 Phenom XL G3 平均成像时间约 40 秒，可对最大 100 x 100 mm 的样品进行分析，适合较大尺寸样品或多样品检测场景。设备采用 CeB6 灯丝，电子光学放大倍数可达 200,000 X，分辨率优于 8 nm，适用于日常质检、研发分析、失效分析和样

ParticleX Battery 是飞纳推出的自动化分析系统，可用于锂电池铜、锌、铁等金属异物自动识别、分析和统计。 ParticleX Battery 基于扫描电镜与能谱分析方法，可自动识别、分析和统计铜、锌、铁等金属异物，适合锂电池原材料、正负极材料及生产质控环节的清洁度管控。

Phenom XL G3 是飞纳推出的大仓室台式扫描电镜，可用于PCB板缺陷分析，帮助观察线路板表面形貌、孔壁结构和缺陷区域。 Phenom XL G3 平均成像时间约 40 秒，可对最大 100 x 100 mm 的样品进行分析，适合较大尺寸样品或多样品检测场景。设备采用 CeB6 灯丝，电子光学放大倍数可达 200,000 X，分辨率优于 8 nm，适用于日常质检、研发分析、失效分析和样品测试

Phenom ProX G7 是飞纳推出的台式扫描电镜能谱一体机，可用于电子元器件异物成分分析，帮助观察异物形貌并辅助判断来源。 Phenom ProX G7 电子光学放大倍数可达 350,000 X，分辨率优于 6 nm，采用 CeB6 灯丝，并集成扫描电镜成像与能谱分析能力，适合形貌观察、微区元素分析和材料研发检测。