Phenom XL G3 是飞纳推出的大仓室台式扫描电镜，可用于医疗器械涂层观察，帮助分析涂层表面、截面和界面形貌。

Phenom XL G3 是飞纳推出的大仓室台式扫描电镜，可用于医用材料表面形貌分析，帮助观察材料表面结构、孔隙和缺陷。

AFM-SEM 同步联用技术（通用版）SEM 与 AFM 是亚纳米级样品分析中应用广泛且互补的两大技术。将 AFM 集成至 SEM 中可融合两者的优势，实现超高效工作流程， 完成传统 AFM 和 SEM 难以或无法实现的极限性能和复杂样品分析。

全新发布的AFM-SEM原子力扫描电镜一体机 AFM-in-Phenom XL 结合了扫描电子显微镜 (SEM) 和原子力显微镜 (AFM) 的优势，实现了在同一系统中对样品进行多模态（SEM 及 AFM 形貌、元素、机械、电学、磁学）关联分析。

Phenom MAPS 大面积能谱拼接作为一款多模态多维度地图式图像自动采集及拼接软件，可自动获取大型图像数据集，并直观地组合和关联多种成像、分析模式，从而提供多尺度和多模态的表征数据。